반도체/FPD
검사 및 Review 장비 데이터의 풍부한 처리 경험
Defect Management know-how
검사 & 계측 데이터를 이용한 자동 연산
다양한 Map 판정 알고리즘
Map & 데이터 연산을 위한 다양한 알고리즘
품질관리 & SPC
제조 품질 관리 시스템 구축 경험
다양한 통계적 모니터링 방법론
품질 시스템 & 데이터 설계 know-how
MES 시스템의 이해
반도체 소재(BareWafer)분석 시스템
IPS(Image Processing System)
장비의 RAWDATA 혹은 Interface를 통한 Visual한 분석이 가능하고, 자동화된 신속 판정 로직을 구현하여 유저의 업무로드감소와 불량의 패턴 혹은 이미지화된 분석이 가능한 기능을 제공합니다.
FPD Array/CELL/Module 공정의 제품품질분석 시스템
FPD 제조공정의 다양한 검사,테스트 장비 자동화 경험과 데이터 수집 능력을 기반으로 한
YMS (Yield Management System)은 공정 Monitoring과 수율 분석이 동시에 진행되는 System이며
공정 설비 data 및 test data를 활용한 불량 발생 공정 Real-Time Monitoring을 통한 공정관리
수율 향상에 기여하는 System을 제공합니다.
Lot Glass 추적 (공정 시간 조회, 현 위치 조회 – 최후 이력)
장비 별 유의 차 (가동률 + 검사이력)
장비 별 불량률 관리
장비 Event 관리 (Down Time등)
원인 공정 / 장비 탐색
원인 인자 탐색, 원인 설비 탐색
설비별 수율 Monitoring
설비품질 향상을 위한 IOT/CEP 기반의 EdgeComputing System
IPS(Image Processing System)
설비시스템과 상위 제조 지원시스템간의 Bridge 역할을 Tool 기반으로 쉽게 구현, 적용, 확장 관리 할 수 있습니다.
LCD, OLED, 반도체 SET 등 유사 업체에서 축적된 경험을 바탕으로 강력한 Tool 기반의 제품을 지향 하였으며, Designer와 Configurator기능을 통해 작업자나 엔지니어가 손쉽게 사용할 수 있도록 편리성과 가시성을 한 차원 높인 솔루션 입니다.